讲述温度冲击试验机的失效原因

来源：林频仪器 时间：2018-01-15 11:05

温度冲击试验机有两个独立温度箱，其中试验机测试样品，是通过气动提蓝在各个温度箱内传送，从而达到最快的温变速率，或通过气缸控制高低温区的箱门达到温度冲击试验过程。
 

1、在硅片上集成有大量电子元件的集成电路芯片及其元件通过导线连接起来构成电路。由于铝和铝合金价格便宜，其加工工艺简单因此通常被使用为集成电路的金属线。

2、从进行集成电路塑封工序开始，水气会通过环氧树脂渗入引起铝金属导线产生腐蚀现象，由此成为品质工程最为头痛的问题之一。虽然人们通过各种改善包括采用不同环氧树脂材料、改进塑封技术和提高非活性塑封膜为提高产品质量进行了各种努力，但是随着半导体电子器件小型化发展，塑封铝金属导线腐蚀问题仍然是电子行业非常重要的技术课题。