高低温冲击试验箱是应用液体汽体辅助减温，待测物静止不动的检测方法，是当今电子部品检测、科学研究、及其半导体材料生产流水线可用，可节约耗品检测花费，实际操作便捷、高信任度，是经很多年科学研究开发设计的试验仪，为顾客出示长期性靠谱的检测工具。

　　尽管普通的温度冲击试验标准对冷、热冲击试验的开始温度未作硬性规定，但在进行　高低温冲击试验箱试验时这是一个要考虑的问题，因为试验是在低温还是高温条件下进行的，因此决定了是否需要对产品进行干燥，从而延长试验时间。当测试结束时，低温标准受试产品从冷热冲击测试箱(室)中取出后，应在正常测试环境条件下恢复测试，直至样品达到稳定的到达温度，此操作不可避免地会使试样表面产生凝露引入温度对产品的影响。因此改变了试验的性质。

 

　　为解除这种影响，样品可在50高温箱内恢复，待凝露干燥后再在常温下达到温度稳定。可以改变起始冲击温度，从低温开始测试，使测试结果在高温环境下不会出现产品出高低温冲击试验箱的凝露。而使试样经受六次温度(三次高温，三次低温)和五次温度冲击过程的两种试验方法，仅仅是不同冲击方向上的次数不同，两者所能达到的试验效果基本相同，而后者不需要增加烘干时间，缩短了试验箱的冷热冲击试验时间。